粉末材料電阻率測試儀是運用四端子法或四探針法測試粉末電阻率的測量儀器，該儀器采用通用的電流、電壓四端子測量法（儀器電流源和電壓表兩個單元分別從獨立回路連至電極同時和樣品接觸），可以消除電極與連接導線導通電阻產生的誤差，克服了傳統的二端法測量粉末電阻率儀器的弊病，可以真實地、準確地測量出粉末樣品的電阻率，因此重復性也好。

ZJ-3壓電材料測試儀（靜壓電系數d33測量儀）是為測量壓電材料的d33常數而設計的儀器，它可用來測量具有大壓電常數的壓電陶瓷，小壓電常數的壓電單晶及壓電高分子材料。

ZKSJD-600型全自動高低溫介電溫譜儀是中科院聲學所研發的最新一款高低溫介電溫譜儀用于分析寬頻、高低溫條件下被測樣品的介電系數、阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質因數Q等物理量，得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線?？蓮V泛應用于鐵電壓電陶瓷材料、半導體器件及功能薄膜材料等研究。測溫范圍從-190℃-600℃，滿足目前條件下測試的要求，同時高低溫阻抗、介

GDPT-900A型高溫壓電測試系統+ZJ-4型D33測試儀（靜壓電系數d33測量儀）是為測量壓電材料的d33常數而設計的專用儀器，可以測量任意形狀的壓電陶瓷材料，也可以薄膜PVDF材料，在之前的基礎上添加了薄膜拉伸裝置，可以更加直觀的了解薄膜在拉伸條件下的D33數值。對試樣大小及形狀無特殊要求，圓片、圓環、圓管、方塊、長條、柱形及半球殼等均可測量，增加了對被測元件的放電保護、放電提示以及被測波形

模式測量電路，與傳統的 Sawyer-Tawer-模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度取決于積分器積分電容的精度，減少了對測試的影響環節,比較容易定標和校準，且能實現較高的測量準確度它不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線還可以定量得到鐵電薄膜材料的和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場Ec、漏電流k等參數，以及對鐵電薄膜材料的鐵電勞性能、鐵電保持性能的測試，能夠較全面確地測量鐵